Ultrazvučno testiranje (UT) koristi specifične tehnike za različite geometrije kovanja kako bi se osiguralo učinkovito otkrivanje oštećenja . yushi yut serije serije ultrazvučni detektori nedostataka mogu otkriti sitno otkrivanje s različitim sondama . Sljedeće metode su standardizirane za uobičajene vrste opraštanja:
Za odbojnosti osovine
Uzdužni val (sonda ravne grede):
Aksijalno se primjenjuje u obodnom smjeru osovine i na krajnjem licu . Za vrlo dugačka osovina, aksijalno skeniranje s krajnjeg lica obično se izostavlja ili ograničava na dio blizu krajnjeg lica; Cirkumno skeniranje je primarno . osovine sa središnjim rupama testiraju se samo obodno .
Shear Wave (sonda za kutnu snopu):
Kružno skeniranje: Obično se ne pretpostavlja . Ako se koristi, skeniranje se mora obaviti i u smjeru kazaljke na satu i u smjeru u smjeru suprotnom od kazaljke na satu . što je najvažnije, ova metoda može otkriti oštećenja samo u blizini vanjske površine; Unutarnji nedostaci ostaju neotkriveni .
Aksijalno skeniranje: neophodno je . skeniranje u aksijalnim i kontra-aksijalnim smjerovima omogućava da se cijeli presjek pregleda . Ovo skeniranje mora pokriti opseg od najmanje 180 stupnjeva .
Paralelno i diskovi
Ovi odbojci koriste uzdužne valove skenirane s dvije paralelne strane . za deblje dijelove, potrebno je dodatno skeniranje sa strane (okomito na smjer debljine) .
OFFORS OBJEM
Test koristi uzdužne valove . Sonda se može postaviti na konkavnu ili konveksnu stranu za skeniranje .
Cilindrični odbojci
1.Uzdužni valovi:
Pojedine kristalne sonde: Za vanjske cilindrične površine, unutarnja provrta i krajnja lica . Kada skeniranje s krajnjeg lica, efektivna duljina detekcije ovisi o osjetljivosti i obično je ograničena na 500-800 mm. za vrlo dugo cilindre, krajnje cilindare, krajnje cilindare
Dvostruke kristalne (TR) sonde: za upotrebu na vanjskim i unutarnjim cilindričnim površinama .
2. Shear Wave (sonda kutne snope):
Aksijalno skeniranje: skeniranje u pozitivnim i negativnim smjerovima duž osi .
Cirkumno skeniranje: skenira se u smjeru kazaljke na satu i u smjeru suprotnom od kazaljke na satu, oko opsega .
Kritična ograničenja: obodno skeniranje nije dostupno za dijelove s debljinom stijenke do vanjskog promjera (t/d) omjera većih od 0.226. U tim debljim odjeljcima, čisti se smični valovi ne šire učinkovito i ne pregledavaju materijal .